應(yīng)用領(lǐng)域
XAFS（X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜）、XES（X射線發(fā)射譜）是眾多材料研究學家青睞和向往的研究手段，可廣泛應(yīng)用于物理學研究、納米材料研究、半導體材料研究、化學催化材料研究、生物醫(yī)藥與生命科學、考古分析、環(huán)境科學研究等諸多領(lǐng)域，并涵蓋從基礎(chǔ)研究到工業(yè)應(yīng)用等各個方面。
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